Prueba

Caracterización de MTF y EFL, entre otros parámetros ópticos, de objetivos en rango IR, tanto MWIR como LWIR.

Desde el laboratorio de sistemas electroópticos se poseen capacidades para caracterizar lentes y sistemas ópticos conjugado-infinito (pupila de entrada inferior a 200mm) en rango IR, tanto MWIR (3-5 micras) como LWIR (8-12 micras).

Concretamente, se pueden medir las siguientes magnitudes:

• MTF, en eje y fuera de eje con una exactitud de ±3 puntos y una repetibilidad de +-1 punto (hasta 75% frecuencia de corte).
• Distancia Focal Efectiva (EFFL), con una exactitud de ± 1% y repetibilidad de ± 0,5%.
• Curvatura de Campo, con una exactitud de ± 5 micras.
• Distorsión, con una exactitud de ± 0,2%.